公安調査庁幹部らの顔写真が串刺しの状態で見つかった。

　公安調査庁が今年度に行ったオウム真理教の主流派「アレフ」の施設への立ち入り検査で、祭壇付近からナイフのようなもので串刺しにされた公安調査庁の幹部らの顔写真１６枚が見つかった。

　公安調査庁は、教団の持つ危険性に変化がないことを指摘し、引き続き活動実態を明らかにするとしている。